电子半导体图像法清洁度分析系统是普勒新世纪实验按照普洛帝分析仪器事业部的规划，于2001年推向市场的成熟系统仪器；观察颗粒形貌，还可以得到粒度分布、数量、大小、平均长径比以及长径比分布等，为科研、生产领域增添了一种新的粒度测试手段；电子半导体图像法清洁

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JL-1177型全自动激光粒度仪，采用专门设计的由大规模集成电路工艺制造的大尺寸高灵敏度光电探测器阵列，蠕动循环泵进样方式，全程米氏理论和多种分布模型的数据处理方式，高精度的数据传输与处理电路等一系列先进的技术和制造工艺，是集激光技术、计算机技术、光电子技术

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测量范围0.1-1250微米

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采用3.45寸全视角工业炫彩液晶屏，完美显示各项技术指标；可任意历史数据与查询，最大可实现10000组测试结果的存储，可配微型打印机打印所有监测数据；可实现过压保护、过充保护、短路保护、防静电干扰、防磁场干扰等功能；全中文/英文操作菜单，简单实用；国家级计量机

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Rise-2028型干湿两用激光粒度分析仪技术指标：1、测量范围：湿法：0.02～1200微米             干法：0.1～1200微米2、准确性误差：〈±1%（国家标准物质D50）3、重复性偏差：〈±1%（国家标准物质D50）4、电气要求：交流220±10V，50Hz, 200W

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LAP-DW2000激光粒度仪是易仕特新的激光粒度仪之一，自上市以来赢得了广大客户的一致好评。LAP-DW2000采用国际先进的Mie氏散射原理和汇聚光傅立叶变换光路。高密度探头及全量程无缝衔接测试方法，保证了测试结果的准确性和重复性。

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lum-gmbh德国LUMiSizer dispension analyser粒子粉末分散仪

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